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年齢テスト
年齢テストとは何ですか?
これは、将来実行するシステムの能力を評価するテスト手法であり、通常はテストチームによって実行されます。 システムが古くなるにつれて、パフォーマンスが大幅に低下する可能性があることが、年齢テストで測定されています。
- 欠陥年齢*の概念も理解しましょう。 次の2つのパラメーターで測定されます。
1. Phases
2. Time
欠陥年齢-フェーズ:
段階的な欠陥年齢は、欠陥注入段階と欠陥検出段階の差として定義されます。
パラメーター:
{空} 1 「欠陥投入段階」は、欠陥が導入されたときのソフトウェア開発ライフサイクルの段階です。
{空} 2。 「欠陥検出フェーズ」は、欠陥が特定されたときのソフトウェア開発ライフサイクルのフェーズです。
式:
Defect Age in Phase = Defect Detection Phase - Defect Injection Phase
例:
私たちが採用したSDLC方法論には、次のフェーズがあることを考慮してください。
{空} 1 要件開発
{空} 2。 設計
{空} 3。 コーディング
{空} 4。 単体テスト
{空} 5。 統合テスト
{空} 6。 システムテスト
{空} 7。 受け入れテスト、および単体テスト(4)で欠陥が特定され、開発の設計段階(2)で欠陥が導入された場合、欠陥年齢は(4)-(2)= 2です。
欠陥年齢-時間:
欠陥の年齢は、欠陥がまだ開いていると言われている場合、欠陥が検出された日付と現在の日付との時間差として定義されます。
パラメーター:
{空} 1 欠陥は「オープン」および「割り当て済み」ステータスであり、「新規」ステータスだけではありません。
{空} 2。 「再現不能」または「重複」が原因で「クローズ」になっている欠陥は考慮されません。
{空} 3。 欠陥のオープン日と現在の日付から、日数または時間数の差が計算されます。
式:
Defect Age in Time = Defect Fix Date (OR) Current Date - Defect Detection Date
例:
2013年5月5日午前11時3時00分に障害が検出され、2013年5月23日午後12時0分0秒にクローズされた場合、障害年齢は次のように計算されます。
Defect Age in Days = 05/05/2013 11:30:00 AM - 23/05/2013 12:00:00 PM
Defect Age in Days = 19 days
結果:
各フェーズの有効性およびレビュー/テスト活動を評価するには、欠陥の年齢が低いほど有効性が高くなります。